EKM Elektronik nutzt Digitaltests Condor-Testsystem

Alles lief gut, bis ein kräftiger Umsatzanstieg das Unternehmen - mit über 90 Mitarbeitern - vor ein ernsthaftes Produktionsproblem stellte. Das Produktionsvolumen war so stark gestiegen, dass sich der elektrische Test zu einem echten Flaschenhals entwickelte. EKM musste sich etwas einfallen lassen, um den Leiterplattendurchsatz am Testsystem dem gestiegenen Produktionsvolumen anzupassen. Digitaltest schlug seinem Kunden vor, die vorhandenen Möglichkeiten des Condor-Systems auszunutzen und einen Vakuumadapter zu integrieren, sodass der dann erreichbare Durchsatz wieder den gestiegenen Stückzahlen gerecht werden würde. Diese einfache Lösung sparte dem Kunden EKM eine Menge Geld und erhöhte den Wert der ursprünglichen Investition in das Condor-System. Ein Applikationsingenieur von Digitaltest konstruierte und installierte den Vakuumadapter. Die Ergebnisse waren hervorragend Mit dem neuen Adapter stieg der Leiterplattendurchsatz bei EKM von 30 auf nunmehr 70 Leiterplatten in 8 Stunden. Der Einsatz des Vakuumadapters mit 90 Pins im Condor-System hat den Durchsatz mehr als verdoppelt und spart somit Zeit und Geld. Uwe Müller, Geschäftsführer von EKM zeigte sich hochzufrieden mit der von Digitaltest vorgeschlagenen und installierten Lösung: "Als bekannter Elektronik-Dienstleister müssen wir auf alle unsere Kundenanforderungen schnell und flexible reagieren können. Das heißt für uns, höchste Qualität in kürzester Zeit bei hoher Testabdeckung liefern. Die Zusammenarbeit mit Digitaltest hat hierzu entscheidend beigetragen!" Neueste Entwicklungen beim Flying-Prober-Testsystem Condor Die Testköpfe des Flying-Prober Testsystems Condor können kleinste SMT-Anschlüsse – bis herab zu 100 µm – kontaktieren. Für das Softwarepaket C-LINK wurde jetzt ein verbesserter Flying-Prober-Algorithmus entwickelt. Wenn eine Anschlussfläche von mehr als nur einem Kopf erreicht werden kann, berechnet C-LINK, welcher Kopf die beste und zuverlässigste Kontaktierung bietet. Diese neue Funktionalität von C-Link ermöglicht es dem Anwender, sehr robuste Testprogramme in viel kürzerer Zeit zu erstellen. / © Digitaltest