Bizerba nutzt SCANFLEX zur Integration in Agilent In-Circuit Tester

Die Integrationslösung beruht auf einem PCI-Bus basierenden Controller SFX/PCI1149-B in Kombination mit einem speziellen SCANFLEX TAP-Transceiver vom Typ SFX-TAP4/3070-PIC und ermöglicht die Ausführung von komplexen Boundary Scan Tests, High Speed In-System Programmierung (ISP) von MCU und Flash Bausteinen, VarioTAP Emulations-Tests, sowie PLD Programmierung unter Steuerung des ICT. „Mit Bizerba hat sich eine weitere marktführende Firma mit höchsten Qualitätsansprüchen für unsere langjährig industrieerprobte Integrations-Lösung entschieden, was die Leistungsfähigkeit der SCANFLEX® Plattform erneut unter Beweis stellt“, freut sich Bettina Richter, Marketing Manager bei GÖPEL electronic. „Durch die Cross-Kompatibilität des Integrationspaketes besteht jetzt die Möglichkeit sämtliche bereits für die Prototypen entwickelten und verifizierten Test- und ISP-Routinen direkt in die Produktion zu übernehmen. Dieses Prinzip der Unterstützung während des gesamten Produktlebenszyklus erhöht nicht nur die gesamte Prozess-Effektivität, sondern hilft insbesondere auch mit Kosten zu sparen.“ „Wir haben jetzt die Möglichkeit, bei hoch-integrierten Baugruppen, auf denen keine Testpunkte mehr setzbar sind, trotzdem eine nahezu 100%-ige Test-Abdeckung zu erzielen. Auch bei Leiterplatten, bei denen genügend Platz für Testpunkte wäre, können diese dort wo ein Boundary Scan Zugriff möglich, ist zum Teil eingespart werden“, freut sich Eugen Sailer, zuständig für In-Circuit Test bei Bizerba. „Die Fehlermeldungen werden in unser Agilent 3070-Fehler-Ticket integriert und wie gewohnt papierlos gesammelt, sodass hier die vorhandene Infrastruktur mit Agilent-PC_Repair genutzt werden kann.“