GÖPEL electronic integriert Boundary-Scan-Technologie in Takaya Flying Prober
GÖPEL electronic hat eine Lösung vorgestellt, die Boundary-Scan-Tests in den Flying Probe Tester APT-2600FD von Takaya integriert. Dadurch können Leiterplattenbaugruppen im mittleren Fertigungsvolumen vollständig automatisiert getestet und programmiert werden, ohne dass eine separate manuelle Kontaktierung erforderlich ist.
Flying Probe-Systeme werden zunehmend für In-Circuit-Tests und Programmierungen genutzt. Mit dem neuen Integrationspaket lassen sich Komponententests, Boundary-Scan-Prüfungen, Programmierung und Funktionstest auf einem einzigen System abbilden, was Handlingaufwand reduziert und Multi-Panel-Abläufe effizienter macht.
Das Takaya APT-2600FD mit Multiprobe-Option erlaubt die flexible Kontaktierung eigener Pad-Geometrien per Miniadapter. Die Multiprobe ist standardmäßig auf der Unterseite als Alternative zu einer Bottom-Probe implementiert und ermöglicht eine kompakte Kontaktierung der JTAG-relevanten Signale inklusive Spannungsversorgung. Damit können sämtliche JTAG/Boundary-Scan-Tests und Bausteinprogrammierungen in ein vollautomatisiertes Inline-System eingebunden werden.
Das Integrationspaket basiert auf der SCANFLEX II CUBE-Architektur und umfasst speziell auf die Multiprobe-Option abgestimmte Komponenten. Durch den abgestimmten Software-Handshake zwischen Takaya APT und den Lösungen von GÖPEL electronic lassen sich Prüfschritte nahtlos kombinieren: zuerst MDA- und Boundary-Scan-Test, anschließend Programmierung und zum Abschluss Funktionstest – ohne Systemwechsel oder manuelle Eingriffe.
