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Elektronikproduktion |
PVA TePla erweitert Metrologie-Portfolio durch Kooperation mit SENTECH Instruments
PVA TePla AG hat eine strategische Partnerschaft mit SENTECH Instruments bekannt gegeben, um ihr Metrologie-Portfolio zu erweitern. Gemeinsam entwickeln die beiden Unternehmen ein optisches Messsystem für die zerstörungsfreie Bestimmung der Schichtdicke und Homogenität von Halbleiterbeschichtungen. Die Produktion und der weltweite Vertrieb dieser Systeme werden von PVA TePla übernommen, wobei erste Anwendungen ab 2026 auf den globalen Halbleitermarkt abzielen.
„Mit SENTECH haben wir den idealen Partner gefunden, um unser Metrologie-Portfolio mit einer Schlüsseltechnologie für Kunden im Halbleitermarkt zu erweitern“, erklärt Jalin Ketter, CEO von PVA TePla. „Dies ist ein weiterer Meilenstein in der Umsetzung unserer Wachstumsstrategie, mit der wir den schnell wachsenden globalen Markt für Metrologie gezielt adressieren und unser Produktangebot kontinuierlich ausbauen“, so Ketter weiter.
Die Partnerschaft stärkt die Position von PVA TePla im Bereich der Halbleitertechnologie und unterstreicht das Engagement beider Unternehmen, innovative Lösungen für die Industrie zu entwickeln.