Yxlon International und Mirtec kooperieren

Durch die Kombination der Stärken eines Inline-3D-AOI-Systems mit der Schnelligkeit und Genauigkeit des Atline-Röntgensystems, mit dem sich verdeckte Lötstellen bei z.B. BGS, CSP, QFN usw. betrachten lassen, wird der Herstellungsprozess fortlaufend und automatisch verbessert, heißt es in einer Pressemitteilung. „Die Details, die das Yxlon System zusammen mit den Mirtec-Daten in einem einzigen System liefert, werden dem Anwender zum ersten Mal ermöglichen, intelligente, fakten-basierte Entscheidungen zu generieren. Das wird die Erträge signifikant verbessern und Kosten senken“, wie Stefan Moll, Geschäftsführer Yxlon International, erklärt. „Das ist ein gewaltiger Schritt in Richtung Datenintegration und Prozessmanagement auf dem Weg zu Industrie 4.0.“ „Mit unserer Intelli-Sys und Intelli-Track-Software steht Mirtec bei Software zur Verbesserung des Prüfprozesses an der Spitze. Viele unserer Kunden kommen bereits in den Genuss verminderter erforderlicher Arbeitskraft und höherer Erträge“, erklärt Chan Wa Pak, CEO der Mirtec Co., Ltd. „Die Kooperation zwischen einem weltweit führenden Röntgenpartner und einem innovativen Softwareunternehmen war der natürliche nächste Schritt, um unseren Kunden nicht nur eine Lösung zu bieten, mit der sie Fehler finden, sondern um ihnen Mittel an die Hand zu geben, mit denen sie Fehler von vornherein vermeiden.“