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Messtechnik | 07 Dezember 2006

Null-Fehler-Test-Methodik für Automobilelektronik

Cadence Design Systems, Inc. und Advantest Corporation entwickeln gemeinsam eine Methodik fĂŒr den Null-Fehler-Test von digitaler Automobilelektronik. Diese soll eine kĂŒrzere Time-to-Market und einen umfassenderen Test von komplexen digitalen Bauteilen ermöglichen.
Die Automobilhersteller setzen bei der Automobilelektronik zunehmend auf Null-Fehler-Strategien. Diese erfordern aber eine schnellere und genauere Testmethodik, um eine hohe QualitĂ€t und ein geringes Risiko gewĂ€hrleisten zu können. Im Zuge der Zusammenarbeit werden automatische Halbleiter-Testsysteme (ATE) von Advantest und traditionelle analoge PAT-Verfahren (Part Average Testing) mit den Möglichkeiten der Encounter True-Time Test Software zur Entdeckung von Small Delay Defects kombiniert. Damit ergibt sich eine neue Generation von Single-Pass-Testmethodiken fĂŒr den Null-Fehler-Test von digitalen Bauteilen. Cadence Encounter Test ist eine SchlĂŒsseltechnologie der digitalen IC-Designplattform Cadence Encounter, mit der sich unter anderem selbst kleinste Verzögerungsfehler entdecken lassen. In Kombination mit Encounter Diagnostics lĂ€sst sich dadurch schnell eine hohe Ausbeute erreichen und eine grĂ¶ĂŸtmögliche HalbleiterqualitĂ€t sicherstellen.
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