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Messtechnik | 07 Dezember 2006

Null-Fehler-Test-Methodik für Automobilelektronik

Cadence Design Systems, Inc. und Advantest Corporation entwickeln gemeinsam eine Methodik f√ľr den Null-Fehler-Test von digitaler Automobilelektronik. Diese soll eine k√ľrzere Time-to-Market und einen umfassenderen Test von komplexen digitalen Bauteilen erm√∂glichen.
Die Automobilhersteller setzen bei der Automobilelektronik zunehmend auf Null-Fehler-Strategien. Diese erfordern aber eine schnellere und genauere Testmethodik, um eine hohe Qualität und ein geringes Risiko gewährleisten zu können.

Im Zuge der Zusammenarbeit werden automatische Halbleiter-Testsysteme (ATE) von Advantest und traditionelle analoge PAT-Verfahren (Part Average Testing) mit den M√∂glichkeiten der Encounter True-Time Test Software zur Entdeckung von Small Delay Defects kombiniert. Damit ergibt sich eine neue Generation von Single-Pass-Testmethodiken f√ľr den Null-Fehler-Test von digitalen Bauteilen.

Cadence Encounter Test ist eine Schl√ľsseltechnologie der digitalen IC-Designplattform Cadence Encounter, mit der sich unter anderem selbst kleinste Verz√∂gerungsfehler entdecken lassen. In Kombination mit Encounter Diagnostics l√§sst sich dadurch schnell eine hohe Ausbeute erreichen und eine gr√∂√ütm√∂gliche Halbleiterqualit√§t sicherstellen.
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