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Messtechnik | 01 Februar 2008

Optische Inspektion auch von 01005-Bauteilen

Mit den AOI-Systemen der OptiCon-Serie von G√ĖPEL electronic aus Jena ist ab sofort durch eine serienm√§√üige Erh√∂hung der Objektivaufl√∂sung die Inspektion von Bauformen der Gr√∂√üe 01005 sowie von L√∂tstellen an einem Pitch-Raster von 0,3mm m√∂glich.
Gew√§hrleistet wird diese signifikante Erweiterung des Pr√ľfumfangs durch die Steigerung der Objektivaufl√∂sung im Kameramodul, wodurch sich eine entscheidende Verbesserung der Detailerkennung zum sicheren Pr√ľfen kleinster Strukturen ergibt. Die bew√§hrte telezentrische Abbildung zur fehlerfreien Bildaufnahme unabh√§ngig von Lage und H√∂henausdehnung der Bauelemente wurde dabei selbstverst√§ndlich beibehalten.

M√∂glich ist diese revolution√§re Leistungssteigerung durch den Einsatz eines pixeladaptierten Objektivs, dessen optisches Design konsequent an die Bildpunktgeometrie der CCD-Matrix angepasst wurde. Durch eine merkmalsoptimierte Bildtransformation ergibt sich eine Aufl√∂sung von 10,5¬Ķm pro Bildpunkt, was zu einer Erh√∂hung der statistischen Sicherheit f√ľr den jeweiligen Erkennungsalgorithmus f√ľhrt. Zus√§tzlich erm√∂glicht diese gr√∂√üere Pixelanzahl eine bessere visuelle Darstellung und erweist sich als vorteilhaft f√ľr die Bedienung, z.B. bei der manuellen Anpassung von Pr√ľfbereichen.
Ein Upgrade von bereits im Einsatz befindlichen OptiCon-Systemen ist durch eine vor-Ort Umr√ľstung m√∂glich.
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2019.01.17 14:20 V11.11.0-2