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© National Instruments Produkte | 22 Februar 2018

Neue PXI-SMU von NI bietet 6-fache Kanaldichte für Semi Test System

National Instruments trägt mit seinen Systemen für Ingenieure und Wissenschaftler zur Bewältigung der weltweit größten technischen Herausforderungen bei.
Das ist eine Produktankündigung von National Instruments. Allein der Emittent ist für den Inhalt verantwortlich.
Das Unternehmen stellt heute die neue Source Measure Unit (SMU) PXIe-4163 vor, die eine sechsmal höhere Kanaldichte als bisherige PXI-SMUs von NI bietet und sich für das Testen von RF-, MEMS- sowie Mixed-Signal- und anderen analogen Halbleiterbauelementen eignet.

„Hochgradig disruptive Technologien wie 5G, das IoT und autonome Fahrzeuge zwingen Unternehmen dazu, Halbleitertests effizienter zu gestalten, sei es im Labor oder in der Produktion“, so Eric Starkloff, Executive Vice President of Global Sales and Marketing bei NI. „Halbleitertests sind ein strategischer Schwerpunkt für NI. Deshalb entwickeln wir sowohl unsere Softwareplattform als auch unsere PXI-Hardware stetig weiter, z. B. mit dieser neuen PXI-SMU, um Chiphersteller bei der Bewältigung ihrer wichtigsten Herausforderungen zu unterstützen.“

Halbleiterhersteller nutzen das Semiconductor Test System (STS) von NI aufgrund des hohen Durchsatzes, der geringen Prüfkosten und der kompakten Größe für Produktionsbereiche. Die neue SMU PXIe-4163 erweitert das System nun um eine höhere Kanaldichte für mehr Parallelität bei Multi-Site-Anwendungen und ermöglicht Messungen in Laborqualität in einem für die Produktion geeigneten Formfaktor. Dank dieser Eigenschaften kann dieselbe Messhardware vom Validierungslabor bis zur Produktion eingesetzt werden, was die Korrelation von Messdaten vereinfacht und die Markteinführung beschleunigt.

Die neue SMU PXIe-4163 kann sowohl in STS-Konfigurationen als auch in Stand-alone-PXI-Systemen eingesetzt werden. Zu den wichtigsten Produkteigenschaften gehören:
  • Bis zu 24 Kanäle in einem PXI-Express-Steckplatz
  • +/-24 V pro Kanal
  • Bis zu 100 mA (stromziehend/-liefernd) pro Kanal
  • 100 pA Stromempfindlichkeit
  • Bis zu 100 kS/s Abtast- und Update-Rate
  • SourceAdapt zur Reduzierung von Überschwingungen und Oszillationen
  • Interaktive Software für die Konfiguration und Fehlerbehebung
  • Bis zu 408 hochpräzise SMU-Kanäle in einem PXI-Chassis (Platzbedarf von 4 HE)
  • Vollständige Kompatibilität mit dem STS einschließlich Systemverkabelung, Kalibrierung und Pinzuordnung
Das seit 2014 erhältliche STS bietet einen völlig neuen Ansatz für das Testen von Halbleiterbauelementen. Basierend auf der PXI-Plattform ermöglicht es Anwendern die Erstellung intelligenterer Testsysteme. Die PXI-Plattform umfasst u. a. Vektorsignal-Transceiver mit 1 GHz Bandbreite, SMUs für fA-Signale, die branchenführende kommerzielle Testmanagementsoftware TestStand sowie mehr als 600 PXI-Produkte von DC bis zum mm-Wellen-Bereich.

Weitere Informationen zum STS sind auf der Seite ni.com/sts.
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2018.11.11 12:47 V11.8.0-2