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© National Instruments Produkte | 22 Februar 2018

Neue PXI-SMU von NI bietet 6-fache Kanaldichte für Semi Test System

National Instruments trĂ€gt mit seinen Systemen fĂŒr Ingenieure und Wissenschaftler zur BewĂ€ltigung der weltweit grĂ¶ĂŸten technischen Herausforderungen bei.
Das ist eine ProduktankĂŒndigung von National Instruments. Allein der Emittent ist fĂŒr den Inhalt verantwortlich.
Das Unternehmen stellt heute die neue Source Measure Unit (SMU) PXIe-4163 vor, die eine sechsmal höhere Kanaldichte als bisherige PXI-SMUs von NI bietet und sich fĂŒr das Testen von RF-, MEMS- sowie Mixed-Signal- und anderen analogen Halbleiterbauelementen eignet.

„Hochgradig disruptive Technologien wie 5G, das IoT und autonome Fahrzeuge zwingen Unternehmen dazu, Halbleitertests effizienter zu gestalten, sei es im Labor oder in der Produktion“, so Eric Starkloff, Executive Vice President of Global Sales and Marketing bei NI. „Halbleitertests sind ein strategischer Schwerpunkt fĂŒr NI. Deshalb entwickeln wir sowohl unsere Softwareplattform als auch unsere PXI-Hardware stetig weiter, z. B. mit dieser neuen PXI-SMU, um Chiphersteller bei der BewĂ€ltigung ihrer wichtigsten Herausforderungen zu unterstĂŒtzen.“

Halbleiterhersteller nutzen das Semiconductor Test System (STS) von NI aufgrund des hohen Durchsatzes, der geringen PrĂŒfkosten und der kompakten GrĂ¶ĂŸe fĂŒr Produktionsbereiche. Die neue SMU PXIe-4163 erweitert das System nun um eine höhere Kanaldichte fĂŒr mehr ParallelitĂ€t bei Multi-Site-Anwendungen und ermöglicht Messungen in LaborqualitĂ€t in einem fĂŒr die Produktion geeigneten Formfaktor. Dank dieser Eigenschaften kann dieselbe Messhardware vom Validierungslabor bis zur Produktion eingesetzt werden, was die Korrelation von Messdaten vereinfacht und die MarkteinfĂŒhrung beschleunigt.

Die neue SMU PXIe-4163 kann sowohl in STS-Konfigurationen als auch in Stand-alone-PXI-Systemen eingesetzt werden. Zu den wichtigsten Produkteigenschaften gehören:
  • Bis zu 24 KanĂ€le in einem PXI-Express-Steckplatz
  • +/-24 V pro Kanal
  • Bis zu 100 mA (stromziehend/-liefernd) pro Kanal
  • 100 pA Stromempfindlichkeit
  • Bis zu 100 kS/s Abtast- und Update-Rate
  • SourceAdapt zur Reduzierung von Überschwingungen und Oszillationen
  • Interaktive Software fĂŒr die Konfiguration und Fehlerbehebung
  • Bis zu 408 hochprĂ€zise SMU-KanĂ€le in einem PXI-Chassis (Platzbedarf von 4 HE)
  • VollstĂ€ndige KompatibilitĂ€t mit dem STS einschließlich Systemverkabelung, Kalibrierung und Pinzuordnung
Das seit 2014 erhĂ€ltliche STS bietet einen völlig neuen Ansatz fĂŒr das Testen von Halbleiterbauelementen. Basierend auf der PXI-Plattform ermöglicht es Anwendern die Erstellung intelligenterer Testsysteme. Die PXI-Plattform umfasst u. a. Vektorsignal-Transceiver mit 1 GHz Bandbreite, SMUs fĂŒr fA-Signale, die branchenfĂŒhrende kommerzielle Testmanagementsoftware TestStand sowie mehr als 600 PXI-Produkte von DC bis zum mm-Wellen-Bereich.

Weitere Informationen zum STS sind auf der Seite ni.com/sts.
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