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© Evertiq Elektronikproduktion | 13 November 2013

ATEip: Qtouch 1248 – Multifuntiuoneller Flying Prober

Wie oft stehen Anwender in der Prüfung von winzigen Klein- und Nullserienserien, einigen wenigen Prototypen oder im Reparaturbetrieb vor den Aufgabe, die elektrische Integrität bzw. Funktion einer Baugruppe bzw. eines Geräts auf effiziente und kostengünstige Weise rasch zu kontrollieren.

{{functions.webify.editors-note}} Diese Pressemitteilung ist Teil unserer productronica 2013 Berichterstattung.
ATEip Munich, November 12 – 15th, 2013 Hall A1, Booth 150 New Munich Trade fair
Dabei sollen möglicherweise neben den typischen Tests eines MDAs auch analoge sowie digitale Funktionen effizient überprüft sowie auch per automatischer optischer Inspektion (AOI) bestimmte Bauteile oder Lötstellen kurz visuell kontrolliert werden. Klingt vielleicht etwas nach viel Prüfaufgaben in einem System, aber ist mit dem kompakten und kostengünstigen Flying-Prober Qtouch 1248 (Vertrieb und Support durch ATEip)und den dafür verfügbaren vielen Erweiterungen und Optionen wirtschaftlich und meßtechnisch sinnvoll realisierbar. Der Einsatzbereich dieser Neuentwicklung zielt ohne Einschränkungen auf die eben genannten Anwendungsfelder (nicht die hohen Produktionsvolumina) und offeriert hier einen hohen Nutzwert. Obwohl als Flying-Prober benannt und konfiguriert, kann der Qtouch 1248 auf die Performance eines multifunktionalen Prüfsystems ausgebaut werden. Die potentialfreien Messungen sind sehr stabil und praktisch weitgehend frei von Ground-Noise. Der Flying-Probe-Tester ist skalierbar von 1 bis zu 8 Probes (maximal 4 von Oben und 4 von Unten), dabei kann die Maschine komfortabel vor Ort beim Kunden geändert oder erweitert werden (field upgradable). Baugruppen bis zu der Größe von 356 x 356 mm lassen sich kontrollieren, der Abstand der Testpunkt ist mit 20 mil (500 Mikron) spezifiziert. Die Nadeln sind in X,Y, Z sowie in der Theta-Achse (Drehwinkel) frei programmierbar. Ebenfalls frei programmieren lassen sich im Fluge (on the fly) zudem der Probe-Anstellwinkel und die Probe-Richtung. Damit haben Anwender die höchstmögliche Flexibilität bei der Einrichtung der Prüfpunkte auf dem Board. Man sieht, insgesamt handelt es sich also um ein in sich logisches und stimmiges Konzept, das dem Nutzer hohen Gegenwert offeriert. Für die Anschlüsse von Zusatzinstrumenten stehen per Steckverbinderleiste maximal 320 hybride Kanäle für Mixed-Signal-Tests zur Verfügung. Das ermöglicht effiziente Clustertests bei gleichzeitigiger Kontaktierung sowohl über die Probernadeln als auch die Instrumente, die über die Steckerleiste mit dem Prüfobjekt verbunden sind. Das flexibel einsetzbare Prüfsystem bietet dem User eine attraktive und umfangreiche Palette von weiteren, unterschiedlichen, sich ergänzenden Messverfahren. Dazu gehören die floatende Qmax-Impedanzmessung (QVI Scan), Funktionstest über die In-Circuit-Testpins (ICFT) sowie digitaler Funktionstest bzw. Vektortest mit Patternraten bis 50 MHz. Zur Ergänzung gibt es den Boundary-Scan-Test als einfach integrierbare Option. Ein automatisches, geführtes (guided) Backtrack-Probing unterstützt den Anwender beim Clustertest und Boundary-Scan. Nimmt man noch die außerdem integrierbare automatische optische Inspektion (AOI) als Option mit einer Nullpunkt-Automatik mit Multi-Image-Stiching hinzu (Aneinanderfügen von einzelnen Images für größeren Überblick) sowie das Thermal Imaging-Tool (Option), dann ergibt das eine vorzüglich strukturierte Auswahl von Meß- und Prüfmethoden, vereint in einem vielseitigen und kompakten System für kleinere Testvolumen. Und alle diese Messprinzipien können für die spezifische und hochwirksame Lokalisierung von Defekten auch noch flexibel miteinander kombiniert werden. Integrierbar ist der Qtouch 1248 in Prüffeld-Konfigurationen mit allen Qmax ATE-Systemen der Software-Plattform Test Director 6 (QT200, V200, V250, V250PXI, V2200, ProRackV2200EX etc.) sowie mit der neuen Tester-Plattform Qmax Z1, dem High-Speed/High-Precision MDA mit Kirchhoff Guarding. Mit der QVI-Scan Messung werden eine Vielzahl von Impedanzkurven gemessen. Einige davon bieten keine Fehlererkennung, egal, welche Parameter angelegt werden. Hier variieren Spannung, Strom und Frequenz des Signals in weiten Bereichen und die Impedanz wird über eine gesampelte Kurve festgehalten. Mit der Funktion ‚Best Fit‘ enfernt das System dann automatisch jene Kurven, die keine vernünftige Fehlererkennung erlauben und erleichtert damit dem Anwender die Diagnose von Defekten. Für die Generierung der Testprogramme sind im TD6-Environment der Import von CAD-Daten mit Unterstützung der unterschiedlichen Gehäusetypen möglich, ebenso die automatische Programmgenerierung. Für Baugruppen ohne Schaltungsunterlagen, wie im Reparatur- und Wartungsbetrieb oft der Fall, können Programme natürlich mit Hilfe der vorhandenen Softwaretools komfortabel erzeugt werden. Sollte bei Null- und Kleinserien ein funktionstüchtiges Board vorhanden sein, lassen sich von diesem Golden Board per Compare und Learn natürlich auch Prüfprogramme erstellen.
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2019.05.21 21:58 V13.3.9-1