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Messtechnik | 02 April 2008

Viscom stellt AOI-System für Photovoltaikanwendungen vor

Viscom, ein Anbieter von automatischen optischen Inspektionslösungen für die Elektronikindustrie, stellt erstmals ein optisches Inspektionssystem (AOI) für die Produktion von Solarzellen vor.

Damit zielt Viscom auf die stetig wachsenden Anforderungen an die Qualität von Solarzellen, die effektive und schnelle Charakterisierungssysteme erfordern. Das S2012PV ist ein AOI-System für Anwendungen wie die Wafer-Eingangskontrolle, Zellencharakterisierung und Zellenendkontrolle. Dabei wird u. a. auf Geometrie, Risse, Farbe, Druckbild und Mikrorisse geprüft – und das bei besonders großer Prüftiefe. Das System ist mit der leistungsstarken VisCam-Sensorik ausgestattet und kann modular an jedes Prüftor und für jede Charakterisierungsaufgabe angepasst werden. Sie garantiert eine gleichbleibend gute Qualität in der Zellenfertigung. Das AOI-System ist zudem besonders einfach in die jeweilige Fertigungsumgebung integrierbar. Das speziell entwickelte Kalibrationskonzept sorgt für echte Maßtreue und für eine dauerhafte Reproduzierbarkeit aller Prüfaufgaben.
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