PVA TePla AG stärkt Halbleiter-Aktivitäten

Die PVA TePla AG übernimmt zum 6. Juli 2012 die Munich Metrology GmbH. Das Unternehmen, ursprünglich hervorgegangen aus der GeMeTec mbH, entwickelt und vertreibt weltweit innovative Analysesysteme zur Bestimmung der Oberflächenverunreinigungen auf Wafern für die Halbleiterindustrie. Mit der Übernahme der Munich Metrology GmbH, die im Geschäftsjahr 2011 ein Umsatzvolumen im niedrigen einstelligen Millionenbereich realisiert hat, baut die PVA TePla AG ihre technologische Kompetenz im Bereich der Wafer-Analytik (Metrologie) aus und stärkt die bestehenden Metrologie-Aktivitäten im Geschäftsbereich Semiconductor Systems. “Es ist erklärtes Ziel unserer Strategie für den Geschäftsbereich Semiconductor Systems, komplementäre Technologien aufzubauen und damit der Halbleiterindustrie ein breiteres Produktspektrum und weitere, innovative Lösungen anzubieten”, erläutert Dr. Arno Knebelkamp, Vorstandsvorsitzender der PVA TePla AG. Dr. Walter Böhme, Geschäftsführer der Munich Metrology GmbH ergänzt: “Wir sind überzeugt davon, mit der PVA TePla AG den idealen Partner zur Weiterent-wicklung der Munich Metrology gefunden zu haben”. Über den Kaufpreis haben beide Unternehmen Stillschweigen vereinbart.