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Messtechnik | 12 November 2009

NI mit neuen Testfunktionen für die PXI-Plattform

<strong>Productronica:</strong> National Instruments stellt mit der PXI Semiconductor Suite 10 neue Produkte vor, welche die PXI-Plattform speziell um Funktionen zum softwaredefinierten Test von Mixed-Signal-Halbleitern erweitern.
Die PXI Semiconductor Suite ist für den Einsatz mit der grafischen Systemdesignsoftware NI LabVIEW optimiert und umfasst vier Hochgeschwindigkeits-Digital-I/O-Module (HSDIO), zwei Schaltmodule für digitale Signale, zwei erweiterte 6,6-GHz-RF-Vektorsignalgeneratoren/-analysatoren (VSG/VSA), eine Präzisions-SMU (Source Measure Unit) sowie eine spezielle Software für den Import digitaler Vektordateien.

Die neue NI PXI Semiconductor Suite integriert zahlreiche Funktionen, u. a. Digital-I/O-Operationen mit 200 MHz, eine Stromauflösung von 10 pA, schnelle Mehrband-RF-Messungen, automatisierte Schaltvorgänge zwischen DC und digitalen Systemen sowie die Möglichkeit, Daten aus Dateien der Formate Waveform Generation Language (WGL) und IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL) zu importieren.

„Die PXI-Produkte der neuen PXI Semiconductor Suite von National Instruments ermöglichen den direkten Import von WGL- und STIL-Designvektoren und damit die einfache Validierung digitaler Protokolle und kritischer Timing-Parameter unserer IC-Designs“, so David Whitley, Evaluation Engineer bei Analog Devices.

Die PXI Semiconductor Suite verfügt auch über eine Lösung für den effizienten Import digitaler Vektorformate wie WGL und STIL. So wird die Integration von Design und Test beim Einsatz digitaler High-Speed-PXI-Produkte von NI optimiert. TSSI TD-Scan für NI-Software ist das Ergebnis der Zusammenarbeit von NI und Test Systems Strategies (TSSI) und erlaubt den Import von WGL- und STIL-Simulationsvektoren in PXI-Systeme, eine Aufgabe, die bisher anwenderdefinierte Softwareentwicklungen erforderte.

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