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NPL will XRF-Tests für RoHS untersuchen

Zum Test von Elektronik im Hinblick auf die Einhaltung der RoHS-Direktive ist das XRF-Verfahren (Röntgenstrahlfluoreszenz) die ideale Technologie.

21. Juli 2006, 10:08
Das National Physical Laboratory (NPL) will das XRF-Testverfahren (Röntgenstrahlfluoreszenz), das als ideale Technologie für die Suche nach RoHS-Verstößen gilt, eingehender untersuchen.

"Der Grund für diese Untersuchung ist, dass diesem Verfahren beim RoHS-Test bislang nicht richtig vertraut", meint Projektleiter Dr. Chris Hunt.

Mit dem XRF-Test lässt sich bestimmen, welche Elemente in einer Probe sind.

"Wir werden unterschiedliche Proben verwenden und unsere Partner werden sie mit den ihnen zur Verfügung stehenden unterschiedlichen XRF-Instrumenten messen", sagt Hunt. "Dann werden wir mittels einer chemischen Analyse feststellen, was wirklich in den Proben ist."

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