Damit können die Anwender einer TestStation mittels Boundary Scan die Testabdeckung ihrer Baugruppen nun auch auf LVDS-, AC-gekoppelte und andere derartige Netzwerke ausdehnen.

Die Testlösung für Baugruppen mit digitalen Netzen basiert auf der JTAG ProVision(TM) Umgebung und nutzt die Funktionen des IEEE-Standards 1149.6, einer Erweiterung des verbreiteten 1149.1 Standards. Neben der Unterstützung der gesamten Palette von 1149.1 Tests, erkennt ProVision automatisch vorhandene und testbare 1149.6 Netze und erstellt hierfür die erforderlichen Testmuster. Mit diesen lassen sich unterschiedlichste strukturelle Fehler, wie kurzgeschlossene Koppelkondensatoren, Fehler an einzelnen Pins von differentiellen Leitungspaaren und vieles andere, entdecken und diagnostizieren. Mit ProVision lassen sich die Test außerdem vor dem Adapterbau noch mittels eines Boundary Scan-Controllers von JTAG Technologies verifizieren.

Nach der Testverifikation und dem Adapterbau werden die Testanwendungen, einschließlich der dot6 Muster, für das Teradyne Run Time-System (RTS) und die Deep Serial Memory (DSM) Karte kompiliert und formatiert. Das Teradyne RTS fungiert dabei als Boundary Scan-Controller und gibt die Test-Bit-Streams über das DSM an den JTAG Test Access Port (TAP) weiter und erfasst auch anschließend die resultierenden Testdaten. Die Testergebnisse werden dann vom JTAG Technologies Boundary Scan Diagnostic (BSD) Modul interpretiert und in Form von einfach zu verstehenden Diagnosemeldungen auf Pin-Ebene automatisch an das Bedienpersonal zurückgegeben.

"Wir glauben, dass die Erweiterung mit den fortschrittlichen Boundary Scan-Testverfahren von JTAG Technologies, einschließlich der Unterstützung für die IEEE dot6 Spezifikation, den Nutzen und die Leistungsfähigkeit der Teradyne TestStation und der 228X Testsysteme für unsere große Anwenderbasis weiter verbessert", sagt Alan Albee, Produktmanager In-Circuit Test bei Teradyne. "Wir freuen uns sehr, dass die fortschrittliche Boundary-Scan-Testgenerierungs- und –diagnose-Software von JTAG Technologies in die leistungsfähige In-Circuit-Testhardware von Teradyne integriert werden konnte.“