Damit zielt Viscom auf die stetig wachsenden Anforderungen an die Qualität von Solarzellen, die effektive und schnelle Charakterisierungssysteme erfordern.

Das S2012PV ist ein AOI-System für Anwendungen wie die Wafer-Eingangskontrolle, Zellencharakterisierung und Zellenendkontrolle. Dabei wird u. a. auf Geometrie, Risse, Farbe, Druckbild und Mikrorisse geprüft - und das bei besonders großer Prüftiefe.

Das System ist mit der leistungsstarken VisCam-Sensorik ausgestattet und kann modular an jedes Prüftor und für jede Charakterisierungsaufgabe angepasst werden. Sie garantiert eine gleichbleibend gute Qualität in der Zellenfertigung.

Das AOI-System ist zudem besonders einfach in die jeweilige Fertigungsumgebung integrierbar. Das speziell entwickelte Kalibrationskonzept sorgt für echte Maßtreue und für eine dauerhafte Reproduzierbarkeit aller Prüfaufgaben.