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NB-IoT-Chipätze von Huawei jetzt von Anritsu Mobilfunktestlösung unterstützt
Die Anritsu Corporation freut sich bekanntgeben zu dürfen, dass Huawei die Nutzung der Hochgeschwindigkeits-Mobilfunk-Testplattform MT8870A von Anritsu für seine HF-Kalibierungs- und Validierungstests zugestimmt hat.
Das ist eine Produktankündigung von Anritsu Corporation. Allein der Emittent ist für den Inhalt verantwortlich.
Das MT8870A Universal Wireless Test Set bietet Unterstützung für die NB-IoT Chipsätze Hi2110 und Hi2115 für die IoT-Anwendungsfälle. Die seit langem etablierten Konnektivitäts- und Mobiltelefon-Testmethoden der Serie MT88xx von Anritsu sorgen bei Huawei für eine verbesserte Produktqualität und eine höhere Fertigungseffizienz.
„Das Wireless Test Set von Anritsu bietet Lieferanten von IoT-Modulen und IoT-Endgeräten eine umfassende Lösung zum Durchführen von HF-Kalibierungs- und Validierungstests auf dem Gebiet der eingebauten Drahtlostechnologie“ sagte Hirokazu Hamada, President Measurement Business Group bei Anritsu. „Chipsätze von HiSilicon und die automatisierte Testsoftware, kombiniert mit MT8870A HF-Testlösungen, resultieren in einer der kürzesten Testzeiten der Branche und bieten dem hart umkämpften Markt der Mobilfunkgeräte des ‚Internet der Dinge‘ (IoT) ein attraktives Gesamtbetriebskosten-Angebot.”
„Anritsu hat die Möglichkeit für eine ausführliche Kalibrierung und Validierung unserer Chipsätze nachgewiesen – sowohl in der F&E- als auch in der Fertigungsumgebung, wobei damit unsere Anforderungen an Genauigkeit und Wiederholbarkeit erfüllt sind.“ so Huawei, „Einige unserer wichtigsten Kunden sind bereits erfolgreich dabei, die Anritsu-Ausrüstungen einzuführen, um so Erwartungen an Fertigungsvorgaben und an die Verfügbarkeit zu erfüllen. Mit der Einbindung des Wireless Testers MT8870A von Anritsu kann die HF-Kalibrierung und die Fertigungsprüfung von NB-IoT-Endgeräten besser gewährleistet werden.“
