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Messtechnik | 07 Dezember 2006

Null-Fehler-Test-Methodik für Automobilelektronik

Cadence Design Systems, Inc. und Advantest Corporation entwickeln gemeinsam eine Methodik für den Null-Fehler-Test von digitaler Automobilelektronik. Diese soll eine kürzere Time-to-Market und einen umfassenderen Test von komplexen digitalen Bauteilen ermöglichen.
Die Automobilhersteller setzen bei der Automobilelektronik zunehmend auf Null-Fehler-Strategien. Diese erfordern aber eine schnellere und genauere Testmethodik, um eine hohe Qualität und ein geringes Risiko gewährleisten zu können.

Im Zuge der Zusammenarbeit werden automatische Halbleiter-Testsysteme (ATE) von Advantest und traditionelle analoge PAT-Verfahren (Part Average Testing) mit den Möglichkeiten der Encounter True-Time Test Software zur Entdeckung von Small Delay Defects kombiniert. Damit ergibt sich eine neue Generation von Single-Pass-Testmethodiken für den Null-Fehler-Test von digitalen Bauteilen.

Cadence Encounter Test ist eine Schlüsseltechnologie der digitalen IC-Designplattform Cadence Encounter, mit der sich unter anderem selbst kleinste Verzögerungsfehler entdecken lassen. In Kombination mit Encounter Diagnostics lässt sich dadurch schnell eine hohe Ausbeute erreichen und eine größtmögliche Halbleiterqualität sicherstellen.

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