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Messtechnik | 01 Dezember 2006

phoenix|x-ray erhält Global Technology Award 2006

Im Rahmen der Assembly Technology Expo 2006 in Rosemont (Chicago) wurde phoenix|x-ray für sein neues Computertomographiesystem nanotom® in der Kategorie „Inspection/X-ray system“ mit dem Global Technology Award ausgezeichnet.
Vergeben wurde dieser Preis von der Fachzeitschrift Global SMT & Packaging. Die internationale Jury, die sich aus unabhängigen Industrieexperten und Wissenschaftlern zusammensetzte, lobte unter anderem den technischen Innovationsgrad sowie die damit verbundenen Vorteile für die Anwender.
Das nanotom® ist weltweit das erste 160kV nanofocus™ Computertomographiesystem, das speziell auf Applikationen in der Elektronik- und Halbleiterindustrie, in der Sensorik und den Materialwissenschaften zugeschnitten ist. Mit dem nanotom® kann beispielsweise die innere Struktur komplexer elektronischer Bauelemente mit höchster Auflösung analysiert werden.

Mit dem nanotom® können Proben bis zu 120 mm im Durchmesser und einem Gewicht bis zu 1 kg untersucht werden. Eine neue Software ermöglicht dem Anwender eine einfache Bedienung und erfordert nur minimales Training. Aufgrund der hohen Leistungsfähigkeit dieser Software erfolgt die Bildaufnahme und Volumenrekonstruktion in bisher unerreichter Schnelligkeit und Qualität.

Die phoenix|x-ray®-Firmengruppe mit Sitz in Wunstorf wurde im Jahr 1999 gegründet und ist heute ein führender Spezialanbieter von Röntgeninspektionssystemen, Röntgenröhren und Computertomographiesystemen für die zerstörungsfreie Prüfung.

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2017.12.13 22:15 V8.9.2-2